Τεχνικές Μετρήσεων και Χαρακτηρισμού Οπτικών Στοιχείων και Διατάξεων


Κωδικός 224
Εξάμηνο Εαρινό
Ώρες Διδασκαλίας - Ώρες Εργαστηρίου 3 - 0
Διδάσκοντες Ηρακλής Αβραμόπουλος

Περιγραφή

Βασική θεωρία διάδοσης σε συστήματα οπτικών ινών. Συστάσεις και τυποποίηση οπτικών ινών και οπτικών διατάξεων. Βασικά όργανα μετρήσεων για το ποιοτικό και ποσοτικό έλεγχο οπτικών κυκλωμάτων και δικτύων οπτικών ινών. Ποσοτική περιγραφή βασικών παθητικών διατάξεων που χρησιμοποιούνται σε συστήματα οπτοηλεκτρονικών μετρήσεων. Ποιοτική και ποσοτική περιγραφή οπτικών ενισχυτών ίνας με προσμίξεις ιόντων ερβίου και ενισχυτών ημιαγωγού. Θεωρία συμβολής και συμβολόμετρα που χρησιμοποιούνται για μετρήσεις όπως Mach-Zehnder, Sagnac, Michelson, Πειραματικές διατάξεις μετρήσεων με ασύμφωνο και σύμφωνο φως Μετρήσεις βασικών μεγεθών οπτικών ινών. Χαρακτηρισμός οπτικών πηγών, οπτικών ενισχυτών ιόντων ερβίου. Απόκριση συχνότητας και παλμική απόκριση οπτικών πηγών και φωτοφωρατών. Εφαρμογές σε μετρήσεις κυκλωμάτων οπτικής λογικής.